德国Mahr 马尔 MarSurf WI 50 表面的三维测量和分析 无接触
灵活的测量解决方案
MarSurf WI 50 是一台强大的表面分析仪，用于表面的三维测量和分析 - 无接触，与材料无关，而且速度快.
灵活的测量解决方案
MarSurf CMexplorer有坚固的结构且对环境波动不敏感，所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。
典型测量任务
粗糙度测量符合
ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学）
轮廓和形状 (2D, 3D)
孔，颗粒分析
缺陷检测...
数据质量
我们最重要的标准之一，即优异的精度、准确性、可再现性和文档记录，保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、过程设计和质量控制领域的定量测量值。
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MarSurf WI 50
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分辨率
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0.2 (nm) 垂直
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测量速度
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140 fps
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测量原理
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白光干涉
高性能 LED (650 nm / white)
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其他
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xyz 方向碰撞检测
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电源
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100 - 240 V
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表面参数
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ISO 4287、ISO 13565、ISO 25178…
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准确，可重复的测量
您的测量数据将可靠地记录、可以复制，并确保原始数据和轮廓精度有的质量。
可测的工件范围广泛
测量不受材料影响，不管几何形状和表面特性是反射性、吸收性、不透明还是透明，都能进行测量。
直观的操作
简单的用户引导界面，所有重要测量参数都有自动模式，包括对已知表面使用测量方案。
我们产品的各种应用
机械制造
鉴定和量化粗糙度、几何形状和磨损体积
电子系统和半导体
亚纳米级组件检测，保证产品无故障
医疗技术
生产和实验室中医疗表面的质量保证
材料科学
新产品表面的功能性特征优化
微系统技术
以纳米级精度测量最小组件的复杂表面几何形状