工业显微镜系统可进行从 VIS 到 SWIR 的多光谱成像
这种工业显微镜装置可进行从可见光（VIS）到近红外光（NIR）再到短波红外光（SWIR）范围的多光谱成像，可以对具有不同光谱指纹的样品进行分离或分类。它建立在坚实的LINOS® X 95 系统底座上，利用固态激光器可靠的 LED 为样品进行多色照明。Optem® SWIR 显微镜地捕获样品图像，然后由 pco.pixelfly™ 1.3 SWIR 相机采集。该相机对从 VIS 至 SWIR 光谱范围（400 nm 至 1700 nm）均敏感。专门开发的 PCO 软件有助于多色图像的记录、制备和多成分分析。该分析可分离或分类测量样品。这些样本涵盖了广泛的应用，包括食品包装控制和废物分类。