德国Mahr 马尔 MarSurf CM select 共聚焦显微镜，三维测量和分析
MarSurf CM select 是强大的可配置型共聚焦显微镜，用于表面的三维测量和分析 – 非接触，与材料无关，而且速度快.
典型测量任务
粗糙度测量符合
ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学）
轮廓和形状 (2D, 3D)
孔，颗粒分析
缺陷检测
根据应用调整的测量解决方案
作为一个多传感器系统，MarSurf CM select 将多种传感器技术结合到了一个测量设备中。也可以根据测量任务选择的点传感器。MarSurf CM select 可以满足您对样品尺寸、自动化、测量舒适度和准确性的个性化要求 - 甚至全自动的测量解决方案。
数据质量
我们最重要的标准之一，即优异的精度、准确性、可再现性和文档记录，保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值。
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MarSurf CM select
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分辨率
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可达 2 (nm) 垂直
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测量速度
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100fps
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工件重量 (kg)
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15 kg
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测量原理
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共聚焦
高性能 LED（505 nm / 白）
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语言
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德语 , 英语 , 法语 , 意大利语 , 西班牙语 , 葡萄牙语 , 波兰语 , 俄语 , 土耳其语 , 中文 , 日语 , 韩语
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其他
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xyz 方向碰撞检测
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电源
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100 - 240 V
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表面参数
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ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178,
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我们产品的各种应用
机械工程
鉴定和量化粗糙度、几何形状和磨损量
电子和半导体
亚微米级的组件检测，确保产品无缺陷
医疗技术
生产和实验室中医疗表面的质量保证
材料科学
新表面和产品的功能属性的优化
微系统技术
以纳米级精度测量最小组件的复杂表面几何形状
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