微焦点X-RAY半导体检测仪器 芯片检测
X-RAY微焦检测系统
XDR-1600W X射线检测系统应用于封装电子组件、贴片元器件和芯片的高分辨率检测。
该机型采用了微焦点X射线管和高分辨率成像系统，能满足航天、航海、电子制造、生物研宄等领域内的检测应用的要求。
技术参数：
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出厂：
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ANZHU
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型号：
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XDR-AZ1600W；
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数字成像视场:
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160x130mm（不同面积可订制)
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像素间距
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49um（高分辨率成像系统）
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A/D转换；
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16/bits
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几何放大倍数；
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高达1000；
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放大倍率；
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高达2000；微焦配置；
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微焦光管；
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进口光管5-15um；
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管电压；
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40-120 kV；
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管电流
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0.2-1.0ma；
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操作台上下间距：
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200-600mm
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机械操作台
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左、右、前、后、上、下；
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机械操作台软件
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软件数控调节模似；
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检测区
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160x130mm(尺寸可选)
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操作台承重量
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10kg
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操作辅助
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自动/手动
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图像处理软件
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X射线检测图像软件，图像增、测量；
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设备尺寸（长x宽x高）
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1360mmx800mmx700mm
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电脑系统:
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windows10；联想21/25吋
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仪器重量:
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380kg
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适配器输出电压
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DC24V
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交流电源频率:
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50-60hz；
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远程控制:
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远程操作软件
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