年份：2014-2015
艾兰特HT100 产品简介
HT系列高解析度X光无损探伤仪主要使用于BGA、CSP、flip chip、半导内部以及多层电路板的质量检测，并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况，特别适用生产过程的质量检测和返修后的质量检测。HT包括一个基于Windows系统平台的工作台（HT -1000），并配有图像多样采集功能，能够做到图像同步采集与分析。HT光机完全体现了ELT设计中的集使用简便、图像清晰、价格合理的完美理念。
HT适用范围:
o BGA，CSP，Flip Chip检测
o PCB板焊接情况
o短路，开路，空洞，冷焊的检测
o IC封装检测
o电容，电阻等元器件的检测
o一些金属器件的内部探伤
o电热管、锂电池、珍珠、精密器件等内部探伤
结构特点：
1.X/Y/Z,三轴可动
2.导轨无噪音，运动灵活
3.维护空间简洁、宽敞，保养维护方便
4.安全限位开关保证安全
5.整体防护措施符合国际安全辐射标准
6.HT 1000工作平台有四种语言界面，使用方便
7.美国技术，世界先进水平
系统特点：
1.{zg}可达100千伏，5微米聚焦的X光管能产生125倍的几何放大率，再加上电脑放大可以达到1000倍的放大率。
2.观察范围可从1.5毫米至50毫米。
3.采用激光笔辅助样品定位。
4.X光管的Z轴可动控制（FOV和放大率控制）。
5.X光管探测器的Z轴可动控制（FOV和放大率控制）。
6.载物台可作±60°倾斜。