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详细介绍
设备名称: 二坐标测量机 设备型号: sp2010ct(全新) 产地: AEH 年代: 新 技术状况: 新 数量: 大量 售价: 议 测量范围(mm)X: 200 测量范围(mm)Y: 100 测量范围(mm)Z: 探测系统: 英国RENISHAW系统 分辨率: 0.5μm 示值误差(μm): 1.0+L/100 探测误差(μm): 技术特点:: 稳定的花岗岩底座及立柱,紧凑的十字工作台,精密光栅测量系统,高品质的光学显微镜及CCD图像传感器,可编程控制的光学照明系统,配之以功能强大的影像测量及数据处理软件,使该仪器具有外形尺寸小,整机重量轻,机械系统稳定,安装调试简单,功能强大,操作使用方便,应用领域广泛的优点。
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